ITO折光率測定儀

型號：NAR-1T

更新時間：2025-09-27

簡要描述：

日本ATAGO（愛拓）DR-M4（1550）是測量液晶材料雙折射樣品Z適宜的型號，被廣泛的應用于液晶材料的檢測中，可提供波長范圍450nm至1550nm，折射率1.3278至1.9220范圍內的檢測。

阿貝折光儀 NAR-1T•LO （低折射指數測量使用）

測量低折射指數與高折射指數的阿貝折射儀
除了我們標準型阿貝折射儀NAR-1T, 2T, 3T, 4T 與 DR-A1，我們亦提供以下阿貝模塊。如果我們標準型的阿貝折射儀無法符合您的需求，我們將請您使用以下模塊。
其它選擇
* 我們可以提供測量范圍在「nD 1.7000 至 2.0800」的溫度為「0 至 50°C」或「0 至 120°C」的阿貝折射儀。
請注意：因為以上的阿貝折射儀具有與我們標準型阿貝折射儀1T 與 2T的相同標度，您將會被要求將測量的折射指數轉換為「實際折射指數」（附有轉換表）。

數量

>Icon說明

$Refractive index scale$

Model	NAR-1T•LO	型號	1217
測量范圍	折射指數（nD） 1.1500 至 1.4800	zui小顯示單位	折射指數（nD） 0.001
測量準確度	折射指數（nD） ±0.0002	測量溫度范圍	5 至 50°C
數字式溫度計	顯示范圍 0.0 至 50.0°C （精度±0.2°C zui小顯示0.1°C ）	電源	AC 100 至 240V, 50 / 60Hz
光源	LED	電力損耗	5VA
尺寸重量	13×18×23公分, 2.5千克（折射儀） 10×11×7公分, 0.5千克（溫度計）
選件	• Monobromona-phthalene 中間液 : RE-1196 • 中間液硫磺碘化次甲基 : RE-1199
消耗品/零件	*請您訂貨時告知序號

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